無(wú)論測(cè)量的是何種元件，無(wú)論對(duì)分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI MP-HS非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測(cè)量結(jié)果。 一百萬(wàn)高速相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無(wú)論是測(cè)量非常粗糙的表面，還是測(cè)量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。
CCI MP-HS極大地?cái)U(kuò)展了分析能力，同時(shí)又不至于讓分析程序變得更復(fù)雜。 您可以測(cè)量各種各樣的元件和表面，不需要進(jìn)行復(fù)雜的測(cè)量模式切換，也不會(huì)給中間透鏡的校準(zhǔn)增加額外的負(fù)擔(dān)。 通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化的方法、程序和報(bào)告，CCI MP-HS可輕松地整合到您的質(zhì)量管理系統(tǒng)中。
