一、江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀產(chǎn)品介紹
Zeus是高精度的光學三維形貌檢測平臺，采用先進的直驅閉環(huán)運動控制，搭載多種光學檢測頭完美實現(xiàn)三維輪廓高速掃描測量。Zeus平臺具備完整的軟件功能，可在現(xiàn)代外觀下進行直觀的操作，輕松完成三維形貌分析，截面輪廓分析、GD&T尺寸分析、粗糙度分析、2D圖像尺寸測量和分析等功能。
江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀能滿足不同類型產(chǎn)品尺寸和外觀檢測的需求，提供全棧式測量方案。
二、江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀產(chǎn)品特點
1、江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀實現(xiàn)測量軟件、控制器等核心技術自主可控。
2、江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀擁有國外最高等級測量設備的精度，但成本顯著降低。
3、江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀的綜合測量精度達到0.8μm。
4、穩(wěn)定的結構設計使得江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀在各種應用環(huán)境，包括在線，現(xiàn)場和實驗室，均能夠精準測量。
5、專注于高要求和快速的測量需求，江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀適用于在線檢測、非接觸測量場景實現(xiàn)高精度、高速測量。
6、江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀提供多種擴展分析工具可選，運行穩(wěn)定，免維護
7、ZeusXY運動平臺行程高達400 mm x400 mm并且可選大理石底座平臺。
8、江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀的橫向分辨率<1μm，高傾斜角±45，最大高度測量范圍可達4mm，最大高度分辨能力高達1nm，傳感器最高可達到36萬測點/秒亞微米及分辨率。
三、江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀應用領域
江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀面向3C行業(yè)，可滿足BGA、納米制程、引線鍵合、芯片貼合、晶片加工、微結構等測量需求。
四、江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀測量項目
江蘇集萃華科高精度光學三維形貌測量儀測量項目包括：輪廓、三維面粗糙度、厚度、體積、幾何尺寸、直線度、截面面積、二維線粗糙度、磨損、平面度、面積等。
