METROTOM系統(tǒng)
在此之前不能檢測或者只能通過耗費時間和成本的接口進(jìn)行檢測的場合,現(xiàn)在用斷層掃描分析可以快速明確地檢測出誤差。
測量技術(shù)的革命
Metrotomography融合了計量學(xué)和層析X射線攝影法,開創(chuàng)了不可預(yù)期的可能性。在此之前只能檢測或根本不能進(jìn)行質(zhì)量保證的場合,現(xiàn)在可以進(jìn)行高精度和無損測量。
斷層掃描分析如同在工件內(nèi)部測量:所有采集的數(shù)據(jù)可用于質(zhì)量保證的范圍和進(jìn)行評估。無損檢測技術(shù),例如:裝配檢查,損傷和氣孔分析,材料檢驗或損壞檢查,如同測量評估,逆向工程應(yīng)用或幾何比較一樣。
重要特征
METROTOM采用了深思熟慮的設(shè)計,它的3D計算機(jī)斷層掃描分析帶有微聚焦X射線管和探測器,同時還裝備了用于裝夾工件的轉(zhuǎn)臺和Zeiss的移動系統(tǒng)。METROTOM還具有安全技術(shù)。其擁有全防護(hù)的測量間,并且符合DIN 54113標(biāo)準(zhǔn)的用于結(jié)構(gòu)類型許可全封閉儀器的防護(hù)射線條例(0.5mr/h在外罩)。同時,機(jī)器是基于人機(jī)工程學(xué)優(yōu)化設(shè)計的(專用的上料位置)。
ZEISS旋轉(zhuǎn)臺,配有直接驅(qū)動 高敏感性的探測系統(tǒng)
久經(jīng)考驗的線性技術(shù)
自加工的精密機(jī)械組件
導(dǎo)軌誤差補償(CAA計算機(jī)輔助精度修正)
Zeiss原裝旋轉(zhuǎn)臺,配有直接驅(qū)動
自產(chǎn)的氣浮軸承
分辨率:0.036˝
最大負(fù)載(中心):500N
傳感器:微焦源X射線管
高電壓:10 – 225 keV
電子管電流:5 – 3000 μA
目標(biāo)功率:320 W max.
反射角:50°錐角
有功發(fā)射角:30°錐角
焦點尺寸:> 7 μm平板式探測器
帶有高敏感性的探測系統(tǒng)
1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三維CT
數(shù)字式無線電復(fù)制,形象逼真